Industry applications

为了确保半导体制造过程中各个阶段的精确度和质量控制，半导体量测设备需要具有极高的光学检测能力和精度要求。我们通过对合成石英工艺的不断优化，能够制备出具有更好折射率均匀性、极低应力双折射、3D无条纹的光学石英材料，满足半导体量测光学石英材料需求。